<samp id="ck6os"></samp>
    <samp id="ck6os"><tbody id="ck6os"></tbody></samp>
    <strike id="ck6os"></strike>
    <strike id="ck6os"></strike>

    您好!歡迎光臨烜芯微科技品牌官網!

    深圳市烜芯微科技有限公司

    ShenZhen XuanXinWei Technoligy Co.,Ltd
    二極管、三極管、MOS管、橋堆

    全國服務熱線:18923864027

  • 熱門關鍵詞:
  • 橋堆
  • 場效應管
  • 三極管
  • 二極管
  • MOS晶體管漏電流的原因解析
    • 發布時間:2024-09-09 20:42:33
    • 來源:
    • 閱讀次數:
    MOS晶體管漏電流的原因解析
    漏電流會導致功耗,尤其是在較低閾值電壓下。了解MOS晶體管中可以找到的六種泄漏電流。
    在討論MOS晶體管時,短通道器件中基本上有六種類型的漏電流元件:
    反向偏置PN結漏電流
    亞閾值漏電流
    漏極引起的屏障降低
    V千 滾落
    工作溫度的影響
    隧道進入和穿過柵極氧化層泄漏電流
    熱載流子從基板注入柵極氧化物引起的泄漏電流
    柵極感應漏極降低 (GIDL) 引起的漏電流
    1. 反向偏置pn結漏電流
    MOS晶體管中的漏極/源極和基板結在晶體管工作期間反向偏置。這會導致器件中出現反向偏置漏電流。這種漏電流可能是由于反向偏置區域中少數載流子的漂移/擴散以及雪崩效應引起的電子-空穴對的產生。pn結反向偏置漏電流取決于摻雜濃度和結面積。
    對于漏極/源極和襯底區域的重摻雜pn結,帶間隧穿(BTBT)效應主導反向偏置漏電流。在帶間隧穿中,電子直接從p區的價帶隧穿到n區的導帶。BTBT對于大于10的電場可見6 V/厘米。
    MOS晶體管漏電流
    圖 1.
    2.亞閾值漏電流
    當柵極電壓小于閾值電壓(V千)但大于零,則稱晶體管偏置在亞閾值或弱反轉區域。在弱反演中,少數載體的集中度很小,但不為零。在這種情況下,對于 |VDS|>0.1V,整個壓降發生在漏極-基板pn結兩端。
    漏極和源極之間的電場分量,平行于Si-SiO2 接口,很小。由于這種可忽略不計的電場,漂移電流可以忽略不計,亞閾值電流主要由擴散電流組成。
    漏極誘導屏障降低 (DIBL)
    亞閾值漏電流主要是由于漏極引起的勢壘降低或DIBL。在短通道器件中,漏極和源極的耗盡區域相互作用,降低了源極處的潛在屏障。然后,源極能夠將電荷載流子注入通道表面,從而產生亞閾值漏電流。
    DIBL在高漏極電壓和短通道器件中很明顯。
    V千 滾落
    由于通道長度縮短,MOS器件的閾值電壓降低。這種現象稱為V千滾降(或閾值電壓滾降)。在短通道器件中,漏極和源極耗盡區域進一步進入通道長度,耗盡一部分通道。
    因此,需要較低的柵極電壓來反相通道,從而降低閾值電壓。對于較高的漏極電壓,這種現象很明顯。閾值電壓的降低會增加亞閾值漏電流,因為亞閾值電流與閾值電壓成反比。
    工作溫度的影響
    溫度在漏電流中也起著一定的作用。閾值電壓隨著溫度的升高而降低?;蛘撸瑩Q句話說,亞閾值電流隨著溫度的升高而增加。
    3. 隧道進入和穿過柵極氧化層泄漏電流
    在短通道器件中,薄柵氧化層會導致SiO兩端的高電場2 層。低氧化物厚度和高電場導致電子從基板隧穿到柵極,從柵極隧穿到柵極氧化物從柵極到基板,從而產生柵極氧化物隧穿電流。
    考慮如圖所示的能量帶圖。
    MOS晶體管漏電流
    圖2.
    MOS晶體管的能帶圖
    (一)
    平帶,
    (二)
    正柵極電壓,以及
    (三)
    負柵極電壓
    第一張圖,圖2(a),是一個扁平帶MOS晶體管,即其中沒有電荷。
    當柵極端子正偏置時,能量帶圖發生變化,如圖2(b)所示。強倒置表面隧道中的電子進入或通過SiO的隧道2 產生柵極電流的層。
    另一方面,當施加負柵極電壓時,電子從n+多晶硅柵極隧道進入或通過SiO。2 產生柵極電流的層,如圖2(c)所示。
    福勒-諾德海姆隧道和直接隧道
    柵極和基板之間主要有兩種類型的隧道機制。它們是:
    福勒-諾德海姆隧道,其中電子隧道穿過三角形勢壘
    直接隧穿,電子穿過梯形勢壘
    MOS晶體管漏電流
    圖3.
    顯示能量帶圖
    (一)
    福勒-諾德海姆隧道穿過氧化物的三角形勢壘和
    (二)
    通過氧化物的梯形電位勢壘直接隧道
    您可以在上面的圖3(a)和3(b)中看到兩種隧道機制的能量帶圖。
    4. 熱載流子從基板注入柵極氧化物引起的泄漏電流
    在短通道器件中,基底氧化物界面附近的高電場激勵電子或空穴,它們穿過襯底氧化物界面進入氧化層。這種現象被稱為熱載體注入。
    MOS晶體管漏電流
    圖4.
    描述電子由于高電場而獲得足夠能量并越過氧化物勢壘電位(熱載流子注入效應)的能量帶圖
    這種現象比空穴更容易影響電子。這是因為與空穴相比,電子的有效質量和屏障高度較小。
    5. 柵極感應漏極降低(GIDL)引起的漏電流
    考慮具有p型襯底的NMOS晶體管。當柵極端子處有負電壓時,正電荷僅在氧化物-襯底界面處積聚。由于基板上累積的空穴,表面表現為比基板摻雜更多的p區。
    這導致沿排水基板界面的表面耗盡區域更薄(與塊體中耗盡區域的厚度相比)。
    MOS晶體管漏電流
    圖5.
    (一)
    沿表面在排水-基底界面處形成薄耗盡區和
    (二)
    由雪崩效應和BTBT產生的載流子引起的GIDL電流
    由于稀薄的耗盡區域和較高的電場,會發生雪崩效應和帶間隧穿(如本文第一部分所述)。因此,柵極下方漏極區域中的少數載流子產生,并通過負柵極電壓推入基板。這會增加漏電流。
    6. 穿孔效應引起的漏電流
    在短通道器件中,由于漏極和源極靠近,兩個端子的耗盡區會聚集在一起并最終合并。在這種情況下,據說發生了“穿孔”。
    穿通效應降低了大多數載體從源頭上的潛在障礙。這增加了進入基板的載流子數量。其中一些載流子被漏極收集,其余的則產生漏電流。
    〈烜芯微/XXW〉專業制造二極管,三極管,MOS管,橋堆等,20年,工廠直銷省20%,上萬家電路電器生產企業選用,專業的工程師幫您穩定好每一批產品,如果您有遇到什么需要幫助解決的,可以直接聯系下方的聯系號碼或加QQ/微信,由我們的銷售經理給您精準的報價以及產品介紹
     
    聯系號碼:18923864027(同微信)
    QQ:709211280

    相關閱讀
    国产精品bbwbbwbbw| 91精品国产自产在线观看| 亚洲国产精品人人做人人爽| 国产精品国三级国产AV| 99久久国产热无码精品免费 | 久久精品免费观看| 精品午夜国产人人福利| 精品一区二区三区免费毛片| 无码日韩人妻AV一区二区三区| 日韩亚洲综合精品国产| 色欲久久久久久综合网精品| 97久久精品无码一区二区| 亚洲AV无码国产精品色| 精品日韩亚洲AV无码| 99久久99久久久精品久久| 亚洲嫩草影院久久精品| 亚洲一二成人精品区| 久久精品香蕉视频| 亚洲av永久无码精品国产精品 | 中文字幕亚洲精品资源网| 久久久精品2019中文字幕2020| 久久青草国产精品一区| 亚洲精品国产精品乱码不99| 中文字幕精品无码亚洲字| 中文字幕在线精品| 国产综合精品久久亚洲 | 久久香蕉国产线看精品| 亚洲国产精品综合久久2007| 69国产成人精品视频软件| 91精品导航在线网址免费| **毛片免费观看久久精品| 亚洲精品第五页中文字幕| 亚洲精品福利网泷泽萝拉| 精品蜜臀久久久久99网站| 91人妻人人澡人人爽人人精品| 亚洲精品福利你懂| 97久久超碰国产精品2021| 久久精品视频在线看99| 热久久综合这里只有精品电影 | 久久久久久久久毛片精品| 无码精品日韩中文字幕|